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簡要描述:抗干擾(rao)介(jie)(jie)質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀為(wei)一(yi)體化結構,內置(zhi)介(jie)(jie)損(sun)電(dian)橋、變頻電(dian)源、試驗變壓(ya)器和標(biao)準電(dian)容器等(deng)。抗干擾(rao)介(jie)(jie)質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀用于現場抗干擾(rao)介(jie)(jie)損(sun)測(ce)量,或試驗室(shi)精密介(jie)(jie)損(sun)測(ce)量。
詳細介紹
抗(kang)干(gan)擾(rao)介質損耗(hao)測(ce)試儀技術參數
1. 準確度: Cx: ±(讀數×1%+1pF)
tgδ: ±(讀數×1%+0.00040)
2. 抗干擾(rao)指標(biao):變頻抗干擾(rao),在(zai)200%干擾(rao)下(xia)仍能達到上述準確度
3. 抗干擾介質損耗測試儀電容量范圍: 內施高壓: 3pF~60000pF/10kV 60pF~1.2μF/0.5kV
外施高壓: 3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV
分辨率: zui高(gao)0.001pF,4位有(you)效數字
4. tgδ范圍: 不(bu)限,分辨率0.001%,電容、電感、電阻(zu)三種試品(pin)自動(dong)識別。
5. 抗干擾介質損耗測試儀試驗電流范圍:10μA~5A
6. 內施高壓: 設(she)定電壓范圍:0.5~10kV
zui大輸出(chu)電流:200mA
升(sheng)降壓(ya)方式: 連續平滑調節(jie)
電壓精度(du): ±(1.5%×讀數+10V)
電壓(ya)分辨率: 1V
試(shi)驗頻率: 45、50、55、60、65Hz單頻
45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙(shuang)變頻
頻率精(jing)度: ±0.01Hz
7. 外施(shi)高壓: 正接線時zui大試驗電(dian)流1A,工頻或(huo)變頻40-70Hz
反接線時zui大試驗電流10kV/1A,工頻或(huo)變頻40-70Hz
8. CVT自激(ji)法低壓(ya)(ya)輸(shu)出:輸(shu)出電(dian)壓(ya)(ya)3~50V,輸(shu)出電(dian)流3~30A
9. 測(ce)量時間: 約30s,與測(ce)量方式(shi)有(you)關
10. 輸(shu)入(ru)電(dian)源(yuan): 180V~270VAC,50Hz/60Hz±1%,市電(dian)或發電(dian)機供電(dian)
11. 計(ji)算機接口: 標準RS232接口
12. 打印機: 煒煌A7熱敏微型(xing)打印機
13. 環境(jing)溫度: -10℃~50℃
14. 相對濕度: <90%
可供(gong)選擇的規格型號(hao)
型 號 | 外(wai)施高壓 | CVT測(ce)量 | 反接線屏蔽 | CVT變比 | 標準(zhun)機箱 | 四通道(dao) |
KS-8000B | 有 | 有 | 有 | — | — | — |
KS-8000D | 有 | 有 | — | — | — | — |
KS-8000E | 有(you) | 有 | 有 | — | — | — |
KS-8000F | 有 | 有 | 有(you) | 有 | — | — |
KS-9000E | 有 | 有 | 有 | — | 有 | — |
KS-9000F | 有 | 有 | 有 | 有(you) | 有 | — |
KS-8000K | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 | 有 |
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